手持式合金分析儀中的基體效應:在實際工作中，被測樣品的成分通常由多種元素組成，除被測元素外的元素統(tǒng)稱為基體。在被測樣品中，其基體成分發(fā)生變化(這種變化一是元素的變化，二是含量的變化)，直接影響被測元素特征x射線強度的測量。換句話說，被測元素含量相同，由于其基體成分不同，被測元素特征x射線強度不同，這就是基體效應?；w效應是x射線熒光定量分析的主要誤差來源之一。
 

　　基體效應是不可避免的客觀事實，其物理本質是刺激(吸收)和散射引起特征x射線強度的變化，除了待測元素外，基體成分中接近待測元素的元素對刺激源的放射線和待測元素的特征x射線產生光電效應的概率遠遠高于輕元素(地質樣品中常見的主要造巖元素)，即這些相鄰元素對刺激源發(fā)射的x射線和待測元素的特征x射線的吸收系數(shù)遠遠高于輕元素。
 

　　為了便于描述，假設樣品中有待測量元素A、相鄰元素B、C和輕元素。B元素的原子序數(shù)大于A元素的原子序數(shù)，B元素可以被放射源釋放的輻射激發(fā)產生B元素的特征。X射線BK，BKX輻射可以激發(fā)A元素;C元素的原子序數(shù)小于待測元素A的原子序數(shù)，可以被A元素特征X輻射激發(fā)產生C元素特征X輻射;輕元素的原子序數(shù)遠離A、B、C元素的原子序數(shù)，激發(fā)的概率很小，可以忽略不計，所以對待測元素A特征X輻射強度的影響如下:
 

　　1、放射源釋放的輻射刺激待測元素A，產生特征X輻射AK線稱為光電效應。
 

　　2、AKX線在樣品出射時遇到C元素激發(fā)C元素特征X射線CK，而A元素特征X射線強度降低，稱為吸收效應。
 

　　3、放射源刺激B元素，BKX線刺激A元素，增加A元素特征X射線計數(shù)，稱為增強效應，也稱為二次熒光。
 

　　4、放射源刺激元素C和元素B，降低刺激元素A的概率。
 

　　5、放射源放射線與輕元素相互作用產生康普頓效應，可發(fā)生一次康普頓效應，也可發(fā)生多次康普頓效應，發(fā)生康普頓效應后，部分射線能量損失可激發(fā)元素A、B、C，也可不起作用，稱為康普頓效應。
 

　　上面只描述了一個簡單的圖像，事實上，X射線的吸收，增強，散射過程要復雜得多。如果待測元素與標準基體成分不一致，必然會使分析結果產生較大的誤差。它是吸收效應，增強效應，散射效應的影響，統(tǒng)稱為基體效應。